Use of the Lateral photo effect to study sample quality in GaAs/AlxGa1 xAs heterostructures
TitelUse of the Lateral photo effect to study sample quality in GaAs/AlxGa1 xAs heterostructures
PublicatietypeArtikel in tijdschrift
Jaar van publicatie1988
TijdschriftAppl. Phys.
Volume64
Pagina's3085-3088
AuteursFontein, P.F., Hendriks, P., Wolter, J.H., Peat, R., Williams, D.E., & Andre, J.-P.